第12年
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基本参数Basic parameters
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▪ 利用玻璃高透光性，物件可平稳放置于检测盘面或可平躺者可检测。
▪ 检测范围:精密电子、贴片电阻、电容、电感，二极管、三极管、芯片半导体陶瓷、光电陶瓷、固定用陶瓷、真空陶瓷、电阻基体瓷、绝缘体零件瓷、铁电瓷、压电瓷、磁性瓷等多面体产品。
▪ 可检测产品长度、高度、直径、混料、变形、缺料、毛刺、黑点、划伤、针脚不良、崩角、缺口、印字等。
▪ 检测范围:精密电子、贴片电阻、电容、电感，二极管、三极管、芯片半导体陶瓷、光电陶瓷、固定用陶瓷、真空陶瓷、电阻基体瓷、绝缘体零件瓷、铁电瓷、压电瓷、磁性瓷等多面体产品。
▪ 可检测产品长度、高度、直径、混料、变形、缺料、毛刺、黑点、划伤、针脚不良、崩角、缺口、印字等。
